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如何測量納米/微球的 CV 值并揭示實際尺寸分布?

更新時間:2023-05-22      點擊次數(shù):921

在尺寸表征領(lǐng)域,主要有掃描/透射/掃描透射電鏡(SEM/TEM/STEM)和動態(tài)光散射(即DLS)兩種方法。不幸的是,我們發(fā)現(xiàn)與 SEM/TEM/STEM 技術(shù)相比,DLS 不適合準確確定納米/微球的尺寸分布。 
 

  • DLS 結(jié)果與膠體穩(wěn)定性密切相關(guān),不可避免地會導致大尺寸納米粒子的尺寸分布不準確。對于低于 100 nm 的納米粒子,流體動力學尺寸變得相關(guān)。然而,對于幾百納米左右或以上的納米粒子,膠體穩(wěn)定性受重力作用的影響很大。相比之下,SEM/TEM/STEM 圖像僅基于干燥樣品,在我們的案例和文獻中通過大量研究已經(jīng)看到更高的再現(xiàn)性和可靠性。

  • DLS 無法區(qū)分納米粒子本身和表面活性劑的聚集體。由于我們的大多數(shù)膠體納米/微球都在系統(tǒng)中故意添加了痕量表面活性劑以延長使用壽命,因此 DLS 變得不適合直接尺寸測量,除非納米/微球用 Milli-Q 水或去離子水至少洗滌 3 次- 離子水以去除表面活性劑的任何痕跡。同樣,由于重新懸浮效率低下而導致的納米/微球也會扭曲 DLS 結(jié)果;例如,在 DLS 測量下,幾個聚集的 100 nm 納米粒子可能被視為 200 nm 或 300 nm 納米粒子。

  • DLS 無法深入了解 納米/微球的形狀或球度。在 DLS 測量下,不規(guī)則形狀的顆粒和球形顆粒可以得到 相同的解釋。

 

因此,我們使用 SEM/TEM/STEM 技術(shù)代替 DLS 測量作為我們的常規(guī)質(zhì)量控制方法。我們通常會拍攝至少 10 張電子顯微照片,并使用 ImageJ 處理它們以獲得尺寸分布和 CV 值。這也是我們通常在向客戶交付產(chǎn)品時隨附幾張具有代表性的 SEM/TEM/STEM 圖片的原因。我們希望揭示真實的尺寸分布,讓客戶直接可視化納米/微球的圖像,而不是間接查看擬合曲線。 


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